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2015年中国科学院福建物质结构研究所X-射线光电子能谱技术培训与交流

来源:中国科学院福建物质结构研究所网   阅读:1555 次  日期:2015-01-26 13:42:21

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报告一:XPS测试样品制备及实验数据处理方法

报告人:吴正龙 教授(北京师范大学)

报告二:XPS表面分析技术及应用

报告人:葛亲青 应用工程师(赛默飞世尔)

培训主要内容:

1、XPS的样品制备

2、XPS的基本原理及应用

3、XPS的数据处理及分析

时间:2015年1月27日(周二) 下午14:30-17:30

地点:化学楼四楼报告厅(杨桥路)

报告人简介:

吴正龙教授,北京师范大学分析测试中心,从事光谱分析以及教学工作二十多年,现担任国标委表面分析标准分技术委员会委员,制定和参与多项电子能谱分析方法国标。

葛亲青博士,毕业于复旦大学,现为赛默飞世尔技术应用工程师。

技术支撑中心负责人:郭斌斌

联系电话:63173644

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